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簡要描述:Metrolux VIS-NIR 光束質(zhì)量分析儀產(chǎn)品簡介 metrolux激光光束分析儀可測量激光強(qiáng)度分布,范圍包括EUV,UV,VIS和NIR,光斑直徑從1µm - 100 mm,可按EN-ISO標(biāo)準(zhǔn)記錄和分析光束。 具有適合于分析光斑和光束位置以及用于均勻激光光束特點(diǎn)描述的各種軟件工具,可選附件便于協(xié)調(diào)脈沖激光器和單脈沖的測量。
產(chǎn)品分類
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品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
詳細(xì)介紹
Metrolux VIS-NIR 光束質(zhì)量分析儀
產(chǎn)品簡介
VIS-NIR 光束質(zhì)量分析儀可測量激光強(qiáng)度分布,范圍包括EUV,UV,VIS和NIR,光斑直徑從1µm - 100 mm,可按EN-ISO標(biāo)準(zhǔn)記錄和分析光束。
具有適合于分析光斑和光束位置以及用于均勻激光光束特點(diǎn)描述的各種軟件工具,可選附件便于協(xié)調(diào)脈沖激光器和單脈沖的測量。
機(jī)械部分采用特殊表面細(xì)化、光學(xué)部分采用光學(xué)增透膜把雜散光減小到zui小的優(yōu)化探測頭。
VIS/NIR激光光束分析儀 UV激光光束分析儀
基于激光光束分析儀的“光束檢測”的CCD相機(jī),被優(yōu)化適合于低輸出功率的連續(xù)和脈沖激光器準(zhǔn)直光束分析,大部分VIS/NIR波長范圍的激光,可用此系統(tǒng)典型分析,例如Nd:YAG或者半導(dǎo)體激光器通常使用此系統(tǒng)分析。
光束質(zhì)量分析儀包含Beamlux II軟件、標(biāo)準(zhǔn)攝像頭及附件如中性密度濾光片組合和可快速建立測量的設(shè)備,使用這些可選配件,系統(tǒng)也可用于高功率激光束和焦點(diǎn)直徑小于10µm的測量。
產(chǎn)品特點(diǎn)
采用ML3743CCD相機(jī)的高分辨率光束質(zhì)量分析儀
采用可廣泛應(yīng)用的BeamLux II軟件包
可通過外觸發(fā)TTL測量脈沖激光器
標(biāo)準(zhǔn)版*功能:
可遠(yuǎn)程控制步進(jìn)電機(jī)
可通過TCP/IP遠(yuǎn)程控制
通過ML協(xié)議的協(xié)議文檔
產(chǎn)品參數(shù) 基礎(chǔ)版 標(biāo)準(zhǔn)版
波長: 320 - 1100 nm ----
功率: <1W ----
傳感器: CCD2/3" ----
有效面積: 8.97X6.71mm2 ----
分辨率: 6.5µm ----
軟件: 基礎(chǔ)版Beamlux II 高級版Beamlux II
光束類型: 原始發(fā)散光 ----
光斑大小: 60µm-5mm ----
接口: IEEE1394 ----
工作距離: 17.5mm ----
重量: 300g ----
產(chǎn)品應(yīng)用
測量光斑大小、發(fā)散角、近場、遠(yuǎn)場、光束指向穩(wěn)定性、功率、焦散、均勻性
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