亚洲高清一区二区三区,亚洲欧美日本一区,花季传媒在线观看三次免费,真实处破疼哭在线播放

全國服務(wù)咨詢熱線:

15618996225

當(dāng)前位置：首頁  >  產(chǎn)品中心  >  激光調(diào)制與測量  >  光學(xué)測量設(shè)備  >  SIT-200硅片厚度測量儀

硅片厚度測量儀

簡要描述：硅片厚度測量儀SIT-200由精確可調(diào)激光光源，聚焦傳感器，光學(xué)接收器組成。波長掃描光聚焦照射到目標(biāo)上，由目標(biāo)表面和背面反射光干涉形成干涉圖案，經(jīng)過聚焦傳感器后由光學(xué)探測器進(jìn)行檢測。

  • 產(chǎn)品型號：SIT-200
  • 更新時(shí)間：2024-08-06
  • 訪  問  量：707

產(chǎn)品簡介

品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間面議
組件類別其他應(yīng)用領(lǐng)域電子

詳細(xì)介紹

硅片厚度測量儀SIT-200

硅片厚度測量儀（SIT-200）由精確可調(diào)激光光源，聚焦傳感器，光學(xué)接收器組成。波長掃描光聚焦照射到目標(biāo)上，由目標(biāo)表面和背面反射光干涉形成干涉圖案，經(jīng)過聚焦傳感器后由光學(xué)探測器進(jìn)行檢測。


硅片厚度測量儀SIT-200產(chǎn)品特點(diǎn)：

l  全光學(xué)，非接觸硅片厚度測試

l  高動態(tài)范圍測量粗糙表面

l  濕法刻蝕過程中實(shí)時(shí)測量

高靈敏度         高精度           快速測量        遠(yuǎn)程控制


結(jié)構(gòu)示意圖

SIT-200

產(chǎn)品參數(shù)：

測量目標(biāo)  

硅片  

測量厚度  

10-500μm

光源  

1515-1585nm掃描

功率  

0.6mw，Class1

指示光源  

紅光，Class1M

測量時(shí)間  

20ms

重復(fù)性  

0.1μm

輸出監(jiān)控  

干擾信號（電學(xué)）  

PC接口

網(wǎng)口  

供電  

100-240V，50/60Hz

尺寸  

364 x 147 x 391mm

重量  

9kg




產(chǎn)品咨詢

留言框

  • 產(chǎn)品：

  • 您的單位：

  • 您的姓名：

  • 聯(lián)系電話：

  • 常用郵箱：

  • 省份：

  • 詳細(xì)地址：

  • 補(bǔ)充說明：

  • 驗(yàn)證碼：

    請輸入計(jì)算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

全國統(tǒng)一服務(wù)電話

021-62209657

電子郵箱：sales@eachwave.com

公司地址：上海市閔行區(qū)劍川路955號707-709室

業(yè)務(wù)咨詢微信