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磁光克爾效應(yīng)磁滯回線測(cè)量?jī)x:從當(dāng)下主流的機(jī)械硬盤,到未來的磁性存儲(chǔ)單元,磁滯回線測(cè)量都是評(píng)估薄膜性質(zhì)的重要手段。 相較于電學(xué)霍爾測(cè)量和震動(dòng)磁強(qiáng)計(jì),光磁克爾效應(yīng)具有測(cè)量速度快,精度高,非侵入,且不需要對(duì)樣品進(jìn)行加工或切片等操作的特點(diǎn)。
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